特許
J-GLOBAL ID：201003019302003318

レーザ画像計測装置

発明者：
今城 勝治

今城 勝治 について

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亀山 俊平

亀山 俊平 について

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玉川 恭久

玉川 恭久 について

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平野 嘉仁

平野 嘉仁 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (7件)： 曾我 道治 ,  古川 秀利 ,  鈴木 憲七 ,  梶並 順 ,  大宅 一宏 ,  上田 俊一 ,  吉田 潤一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-125537
公開番号（公開出願番号）：特開2010-271275
出願日： 2009年05月25日
公開日（公表日）： 2010年12月02日
要約：
【課題】小型で低コスト、かつ高い解像度で高速に対象物の3次、2次元画像を計測できるレーザ画像計測装置を得る。【解決手段】CW変調信号を発生する発振器1と、レーザ光を発生するレーザ装置2と、変調信号に基づきレーザ光に強度変調をかける変調器3と、レーザ光を走査して照射し、走査角度を発生するレーザ光走査光学系4と、対象物からの反射光を集光する受信光学系5と、レーザ走査範囲における対象物の多点の反射光を受信することができる口径を持ち、反射光を電気信号に変換する受光器6と、前記変調信号の位相と受光器6で得られた反射光の電気信号の位相との位相差を検知する位相検波装置7と、この位相検波装置7によって得られた位相差から前記対象物までの距離を演算する距離演算装置8と、前記走査角度及び距離から2次、3次元画像を生成する画像処理装置9とを設けた。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
基準となる連続波の変調信号を発生する発振器と、 レーザ光を発生するレーザ装置と、 前記変調信号に基づいて前記レーザ光に強度変調をかける変調器と、 前記変調器により強度変調したレーザ光を走査して照射するとともに、走査角度を発生するレーザ光走査光学系と、 対象物からの反射光を集光する受信光学系と、 レーザ走査範囲における対象物の多点の反射光を受信することができる口径を持ち、前記受信光学系により集光された反射光を電気信号に変換する単素子の受光器と、 前記変調信号の位相と前記受光器で検出した電気信号の位相との位相差を検知する位相検波装置と、 前記位相検波装置によって得られた位相差から前記対象物までの距離を演算する距離演算装置と、 前記走査角度及び距離から2次元画像もしくは3次元画像を生成する画像処理装置と を備えたことを特徴とするレーザ画像計測装置。
IPC (2件)：
G01S 17/36 ,  G01S 17/89
FI (2件)：
G01S17/36 ,  G01S17/89
Fターム (13件)：
5J084AA05 ,  5J084AD02 ,  5J084BA08 ,  5J084BA11 ,  5J084BA21 ,  5J084BA48 ,  5J084BB28 ,  5J084CA07 ,  5J084CA24 ,  5J084CA42 ,  5J084EA04 ,  5J084EA05 ,  5J084EA31
引用特許：
審査官引用 (12件)
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