特許

J-GLOBAL ID：201003020245492224

導電体を流れる電流を測定する装置および方法

発明者： レールゲン、ベルンハルト ,  ノイデッカー、マルティーン
出願人/特許権者： エプコス アクチエンゲゼルシャフト
代理人 (4件)： 木村 満 ,  毛受 隆典 ,  森川 泰司 ,  中村 承平
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-518698
公開番号（公開出願番号）：特表2010-536013
出願日： 2008年08月04日
公開日（公表日）： 2010年11月25日
要約：

本発明は、導電体(1)を流れる電流を測定する装置に関し、該装置は、導電体(1)と結合するための磁気回路(2)を有し、該磁気回路(2)は空隙(3)を有する。導電体(1)によって生成された磁場を測定するための、磁場を感知する構成要素(4)は、磁気回路(2)の腕部の間に位置する。2つの制御コア(5a、5b)は磁気回路(2)の空隙(3)に配置され、各制御コア(5a、5b)は、該制御コア(5a、5b)を磁気的に飽和させるための制御巻線(6)を有し、導電体(1)の両側に配置される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

空隙(3)を持ち導電体(1)に結合するための磁気回路(2)と、 前記導電体(1)によって生成される磁場を測定するための、前記磁気回路(2)に配置された磁場を感知する構成要素(4)と、 2つの制御コア(5a、5b)と、を有し、 前記各制御コア(5a、5b)が、該制御コア(5a、5b)を磁気的に飽和させるための制御巻線(6)を有し、前記導電体(1)の両側の空隙(3)に配置される、 導電体(1)を流れる電流を測定する装置。

IPC (1件)：

G01R 15/20

FI (1件)：

G01R15/02 B

Fターム (3件)：

2G025AA00 ,  2G025AB02 ,  2G025AC01