特許
J-GLOBAL ID:201003024540743790
SiC薄膜形成装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (5件):
青木 篤
, 石田 敬
, 古賀 哲次
, 関根 宣夫
, 堂垣 泰雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-270084
公開番号(公開出願番号):特開2010-095431
出願日: 2008年10月20日
公開日(公表日): 2010年04月30日
要約:
【課題】同一のSiC薄膜形成プロセスの進行中に、基板の前処理段階(昇温過程および高温過程)および基板上への薄膜の成長段階において、あるいは更に降温段階において、供給する炭化水素ガス種を瞬時に切り替えて、各段階に最適な種類の炭化水素ガスを供給できるCVDによるSiC薄膜形成装置を提供する。【解決手段】SiC単結晶の薄膜を成長させる基板14を保持するサセプタ12を内蔵したCVD反応容器10、および該CVD反応容器にそれぞれ接続されたSi原料ガスの供給器26および炭化水素ガスの供給器28を備えたSiC薄膜形成装置において、上記炭化水素ガスの供給器は、それぞれ相互に独立して供給を制御可能な複数の炭化水素ガス源C1、C2、C3に接続されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
SiC単結晶の薄膜を成長させる基板を保持するサセプタを内蔵したCVD反応容器、および該CVD反応容器にそれぞれ接続されたSi原料ガスの供給器および炭化水素ガスの供給器を備えたSiC薄膜形成装置において、
上記炭化水素ガスの供給器は、それぞれ相互に独立して供給を制御可能な複数の炭化水素ガス源に接続されていることを特徴とするSiC薄膜形成装置。
IPC (5件):
C30B 29/36
, C30B 25/14
, C30B 25/16
, C23C 16/448
, H01L 21/205
FI (5件):
C30B29/36 A
, C30B25/14
, C30B25/16
, C23C16/448
, H01L21/205
Fターム (35件):
4G077AA03
, 4G077BE08
, 4G077DB01
, 4G077DB11
, 4G077EA02
, 4G077EG22
, 4G077TA08
, 4G077TH06
, 4G077TJ03
, 4G077TJ13
, 4K030AA06
, 4K030AA09
, 4K030AA17
, 4K030BA37
, 4K030BB02
, 4K030CA05
, 4K030CA17
, 4K030DA04
, 4K030EA01
, 4K030FA10
, 4K030KA03
, 4K030KA39
, 5F045AA03
, 5F045AB06
, 5F045AC18
, 5F045AC19
, 5F045AD10
, 5F045AD16
, 5F045AD18
, 5F045AF02
, 5F045BB08
, 5F045DP04
, 5F045DQ06
, 5F045EK02
, 5F045GB05
引用特許:
出願人引用 (4件)
-
炭化珪素単結晶の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-159553
出願人:株式会社デンソー
-
特許第3707726号
-
炭化硅素薄膜の形成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-015112
出願人:日本電気株式会社
-
レーザーによるSiC結晶膜の形成法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-243817
出願人:九州工業大学長, 三菱化学株式会社
全件表示
審査官引用 (8件)
-
特開平1-162326
-
特開平2-267197
-
特開平2-172895
全件表示
前のページに戻る