特許
J-GLOBAL ID：201003025341445255

機器寿命評価方法および機器寿命評価システム

発明者：
久保 貴博

久保 貴博 について

, 
深松 彰一

深松 彰一 について

, 
伊藤 洋茂

伊藤 洋茂 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について

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東芝アイテック株式会社

東芝アイテック株式会社 について


代理人 (5件)： 波多野 久 ,  関口 俊三 ,  猿渡 章雄 ,  河村 修 ,  山田 毅彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-160305
公開番号（公開出願番号）：特開2010-002261
出願日： 2008年06月19日
公開日（公表日）： 2010年01月07日
要約：
【課題】クリープ疲労損傷による機器の構造損傷を高精度に行うことができ、もって高精度の機器寿命評価を行える機器寿命評価技術を提供すること。【解決手段】本発明に係る機器寿命評価システム10では、クリープ或いは疲労に基づく機器の構造損傷による機器寿命を評価する機器寿命評価方法において、クリープ或いは疲労に基づく機器構造の損傷を微小亀裂の進展とみなして、この微小亀裂の進展を予測することで機器寿命の評価を行う処理をコンピュータに実行させるようにした。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
クリープ或いは疲労に基づく機器の構造損傷による機器寿命を評価する機器寿命評価方法において、 クリープ或いは疲労に基づく機器の構造損傷を微小亀裂の進展とみなして、この微小亀裂の進展を予測することにより、機器寿命の評価を行う処理をコンピュータに実行させることを特徴とする機器寿命評価方法。
IPC (3件)：
G01N 17/00 ,  G01N 3/32 ,  G01M 19/00
FI (3件)：
G01N17/00 ,  G01N3/32 E ,  G01M19/00 A
Fターム (11件)：
2G024AD02 ,  2G024BA12 ,  2G024CA04 ,  2G050AA07 ,  2G061AB02 ,  2G061BA03 ,  2G061BA15 ,  2G061CA01 ,  2G061CB13 ,  2G061DA11 ,  2G061EA04
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (4件)
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引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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