特許
J-GLOBAL ID：201003026014210283
パターン検出器の学習装置、学習方法及びプログラム
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
, 下山 治
, 永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-171230
公開番号（公開出願番号）：特開2010-009518
出願日： 2008年06月30日
公開日（公表日）： 2010年01月14日
要約：
【課題】 高い検出性能のパターン検出器を現実的な学習時間で構築できるようにしたパターン検出器の学習装置、学習方法及びプログラムを提供する。【解決手段】 複数の弱判別器から構成され、複数の弱判別器による判別により入力データから特定パターンを検出するパターン検出器の学習装置であって、特定パターンを含むか否かが既知であるデータから構成される複数の学習用データを取得し、当該取得した学習用データから特定パターンを検出させることにより複数の弱判別器を学習させ、当該学習が済んだ弱判別器の中から合成対象となる複数の弱判別器を選択するとともに、当該選択された複数の弱判別器を合成した場合の合成後の弱判別器の性能と複数の弱判別器の性能との比較に基づき複数の弱判別器を1つに合成する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の弱判別器から構成され、該複数の弱判別器による判別により入力データから特定パターンを検出するパターン検出器の学習装置であって、
前記特定パターンを含むか否かが既知であるデータから構成される複数の学習用データを取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された学習用データから前記特定パターンを検出させることにより前記複数の弱判別器を学習させる学習手段と、
前記学習手段による学習が済んだ弱判別器の中から合成対象となる複数の弱判別器を選択する選択手段と、
前記選択手段により選択された複数の弱判別器を合成した場合の合成後の弱判別器の性能と該複数の弱判別器の性能との比較に基づき該複数の弱判別器を1つに合成する合成手段と
を具備することを特徴とするパターン検出器の学習装置。
IPC (3件)：
G06T 7/00
, G06N 3/00
, G06N 5/04
G06T7/00 300F
, G06T7/00 350B
, G06N3/00 560A
, G06N5/04 580A
5L096FA34
, 5L096FA35
, 5L096KA17
