特許

J-GLOBAL ID：201003027180765940

半導体集積回路

発明者： ▲吉▼田 俊一
出願人/特許権者： 富士通セミコンダクター株式会社
代理人 (2件)： 古谷 史旺 ,  森 俊秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-074758
公開番号（公開出願番号）：特開2010-225121
出願日： 2009年03月25日
公開日（公表日）： 2010年10月07日
要約：

【課題】 マイクロコンピュータ等の半導体集積回路がユーザモードで正常に動作することをプログラムメモリに試験用プログラムを格納せずに短時間で確認できるようにする。【解決手段】 半導体集積回路(100)は、プログラムメモリ(114)と、中央処理ユニット(111)と、内部情報レジスタ(131a)とを備える。中央処理ユニット(111)は、ユーザモード時にはプログラムメモリ(114)に格納されたプログラムを実行し、テストモード時には外部装置から供給されるプログラムを実行する。内部情報レジスタ(131a)は、ユーザモードでの起動時にユーザモードでの起動の証拠となる内部情報を格納する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

プログラムメモリと、 ユーザモード時には前記プログラムメモリに格納されたプログラムを実行し、テストモード時には外部装置から供給されるプログラムを実行する中央処理ユニットと、 前記ユーザモードでの起動時に前記ユーザモードでの起動の証拠となる内部情報を格納する内部情報レジスタとを備えることを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2件)：

G06F 11/22 ,  G01R 31/317

FI (2件)：

G06F11/22 310D ,  G01R31/28 A

Fターム (10件)：

2G132AA03 ,  2G132AG01 ,  2G132AK07 ,  2G132AK15 ,  2G132AL09 ,  5B048AA12 ,  5B048AA20 ,  5B048CC02 ,  5B048DD01 ,  5B048FF01