特許
J-GLOBAL ID:201003027743249153

超解像画像取得システム、画像取得装置、超解像画像取得方法、超解像画像取得プログラム、及び超解像画像取得プログラムが記録された記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 石川 泰男 ,  今井 孝弘 ,  奥 和幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-162237
公開番号(公開出願番号):特開2010-004386
出願日: 2008年06月20日
公開日(公表日): 2010年01月07日
要約:
【課題】適切な枚数の位置ずれ画像を取得し、超解像画像を生成システムを提供する。【解決手段】超解像画像取得システムは、画像センサと光学系とを相対的にシフトさせて複数の位置ずれ画像信号を取得し、超解像画像を作成する超解像処理部に供給する。超解像画像取得システムは、更に、前記画像センサからの画像信号を解析し、画像の特徴を解析する画像特徴解析部と、画像特徴解析部からの特徴解析信号に基づき、画像センサと光学系とを相対的にシフトさせるためのシフトデータを設定するシフトデータ設定部と、シフトデータ設定部からのシフトデータ信号に基づき、シフト部を制御するシフト制御部とで構成した。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象物の画像を取得し、該画像を示す画像信号を出力する画像センサと、 前記対象物と画像センサとの間の光学経路上に配置された光学系と、 前記画像センサと光学系とを相対的にシフトさせ、複数の位置ずれ画像信号が前記画像センサから出力されるようにするシフト部と、 前記画像センサから複数の位置ずれ画像信号を受け取り、該複数の位置ずれ画像信号に基づき超解像画像を作成する超解像処理部と、 を含む超解像画像取得システムであって、 前記画像センサからの画像信号を解析し、該画像の特徴を解析する画像特徴解析部と、 前記画像特徴解析部からの特徴解析信号に基づき、前記画像センサと光学系とを相対的にシフトさせるためのシフトデータを設定するシフトデータ設定部と、 前記シフトデータ設定部からのシフトデータ信号に基づき、シフト部を制御するシフト制御部と、 を含むことを特徴とする超解像画像取得システム。
IPC (2件):
H04N 5/232 ,  H04N 5/225
FI (2件):
H04N5/232 Z ,  H04N5/225 D
Fターム (6件):
5C122DA30 ,  5C122EA37 ,  5C122FB23 ,  5C122FC01 ,  5C122FC02 ,  5C122FH11
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 画像入力装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-176582   出願人:株式会社タムロン

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