特許
J-GLOBAL ID:201003031024567647
放射システムおよびこれを含むリソグラフィ装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
稲葉 良幸
, 大貫 敏史
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-530300
公開番号(公開出願番号):特表2010-505261
出願日: 2007年09月25日
公開日(公表日): 2010年02月18日
要約:
極端紫外線リソグラフィシステムにおける使用のための光センサ装置が開示される。装置は、センサ表面およびセンサ表面からデブリを除去する除去機構を備えた光るセンサを含む。したがって、ドーズおよび/または汚染測定は、リソグラフィシステムに対して都合よく行われ得る。
請求項(抜粋):
極端紫外線リソグラフィシステムにおける使用のための光センサ装置であって、
センサ表面を含む光センサと、
前記センサ表面からデブリを除去する除去機構と
を含む、光センサ装置。
IPC (2件):
FI (3件):
H01L21/30 531A
, H01L21/30 503G
, G03F7/20 521
Fターム (8件):
5F046AA17
, 5F046AA22
, 5F046DA01
, 5F046DB01
, 5F046DC02
, 5F046GA14
, 5F046GA20
, 5F046GC03
引用特許:
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