特許
J-GLOBAL ID：201003032781686633
ドット位置測定方法及び装置並びにプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-070607
公開番号（公開出願番号）：特開2010-221494
出願日： 2009年03月23日
公開日（公表日）： 2010年10月07日
要約：
【課題】記録素子を特定する特別なパターンを必要とせず、各記録素子で記録されるドット位置を高精度に測定する。また、読取画像の傾きを補正し、画像読取装置(スキャナ)に起因する位置測定精度を向上させる。【解決手段】記録ヘッドの実質的な記録素子の並び方向に所定間隔離れた記録素子を用いて記録される複数のラインブロックを有する測定用ラインパターンを形成し、該測定用ラインパターンを画像読取装置で読み取る。この読取画像から各ラインブロック内のライン位置を特定し、各ラインブロック毎にライン位置と仮記録素子番号の関係を示す関数を求め、この関数からブロック間で仮記録素子番号の誤りを判定し、仮記録素子番号を訂正することで、各ラインブロック内のライン位置と記録素子との対応関係の整合を図る。【選択図】図37
請求項（抜粋）：
複数の記録素子を有する記録ヘッドと記録媒体を相対移動させながら、前記記録素子によってドットを連続して記録することにより、前記記録媒体上に各記録素子に対応したドット列による複数のラインを含んだ測定用ラインパターンを形成するラインパターン形成工程であって、前記記録ヘッドの前記相対移動の方向に直交する実質的な記録素子の並び方向に所定間隔離れた記録素子を用いて記録されるライン群で構成されるラインブロックを、前記記録媒体上において前記ラインの長手方向の異なる位置に複数形成してなる複数のラインブロックを有する前記測定用ラインパターンを形成する前記ラインパターン形成工程と、
前記ラインパターン形成工程により前記記録媒体に形成された前記測定用ラインパターンを画像読取装置によって読み取り、前記測定用ラインパターンの読取画像を表す電子画像データを取得する読取工程と、
前記読取工程で取得した読取画像から前記複数のラインブロックの各ラインブロック内におけるライン位置を特定するラインブロック内位置特定工程と、
前記各ラインブロック内のライン位置に対応させて仮記録素子番号を付与し、各ラインブロック毎に前記仮記録素子番号とライン位置の関係を示す関数を求める関数決定工程と、
前記各ラインブロックに対応して求めた前記関数に基づき、前記ラインブロック相互間で各ラインブロックにおける前記仮記録素子番号の誤りの有無を判定する判定工程と、
前記判定工程にて仮記録素子番号に誤りがあると判定されたラインブロックについての仮記録素子番号を変更し、前記各ラインブロック内のライン位置と前記記録素子との対応関係を特定する記録素子位置特定工程と、
を有することを特徴とするドット位置測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B41J3/04 101Z
, B41J29/46 C
2C056EA04
, 2C056EB27
, 2C056EB42
, 2C056EC07
, 2C056EC76
, 2C056FA04
, 2C056FA13
, 2C056HA58
, 2C061AQ05
, 2C061AR01
, 2C061AS06
, 2C061KK13
, 2C061KK18
, 2C061KK26
, 2C061KK28
