特許

J-GLOBAL ID：201003036086656753

コネクター付き装置の検査方法、コネクター付き装置の製造方法、およびコネクター付き装置用検査装置

発明者： 寺本 龍亮
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 服部 毅巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-069572
公開番号（公開出願番号）：特開2010-225351
出願日： 2009年03月23日
公開日（公表日）： 2010年10月07日
要約：

【課題】コネクター部材を損傷させず、かつ、多大なコストをかけずに、コネクター付き装置の電気的な検査を行うことのできるコネクター付き装置の検査方法、コネクター付き装置の製造方法、およびコネクター付き装置用検査装置を提供することにある。【解決手段】コネクター付き装置1の配線基板50には、雄コネクター部材62と結合してコネクター60を構成する雌コネクター部材61が実装されている。コネクター付き装置1の電気的な検査を行う際、検査部材63として、雌コネクター部材61と対をなす雄コネクター部材62と同一構成のコネクター部材を用いる。また、検査部材63と雌コネクター部材61と結合させる際、スペーサー7によって結合を浅くする。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

第1コネクター部材と結合してコネクターを構成する第2コネクター部材が基板上に実 装されたコネクター付き装置の検査方法であって、 前記第2コネクター部材に検査部材を結合させて前記コネクター付き装置の電気的な検 査を行うにあたって、 前記検査部材として前記第1コネクター部材と同一構成のコネクター部材を用い、 前記検査部材と前記第2コネクター部材とを結合させる際、前記検査部材側と前記第2 コネクター部材側との間に、前記検査部材と前記第2コネクター部材との結合を浅くする スペーサーを介在させることを特徴とするコネクター付き装置の検査方法。

IPC (3件)：

H01R 43/00 ,  G01R 31/00 ,  H01R 12/16

FI (3件)：

H01R43/00 Z ,  G01R31/00 ,  H01R23/68 303D

Fターム (24件)：

2G036AA19 ,  2G036BA33 ,  2G036BB12 ,  2G036CA06 ,  2G036CA09 ,  5E023AA04 ,  5E023AA16 ,  5E023BB02 ,  5E023BB12 ,  5E023BB13 ,  5E023CC02 ,  5E023CC22 ,  5E023CC26 ,  5E023DD19 ,  5E023DD24 ,  5E023EE07 ,  5E023EE10 ,  5E023FF01 ,  5E023GG12 ,  5E023HH26 ,  5E051BA08 ,  5E051GA07 ,  5E051KA00 ,  5E051KB04