特許
J-GLOBAL ID：201003036314815182
対象者の眼の注目点の矢状面における水平方向の位置を計測する方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
青木 篤
, 鶴田 準一
, 水谷 好男
, 森 啓
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-500318
公開番号（公開出願番号）：特表2010-524011
出願日： 2008年03月26日
公開日（公表日）： 2010年07月15日
要約：
本発明は、一般に、対象者に関する幾何学的且つ形態学的な計測値を取得することに関する。更に詳しくは、本発明は、対象者の眼の注目点の位置を計測する方法に関する。本方法は、例えば、対象者の異なる相対的姿勢(APIV1、APIV2、(O1、X1、Y1、Z1)、(O2、X2、Y2、Z2))における画像をキャプチャする段階と、眼の基準点((RCG1、RCD1)、(RCG2、RCD2))を識別する段階と、キャプチャされた画像によって注目点(CROD、CROG)を算出する段階と、を含む。姿勢パラメータ(APIV)の値は、対象者の頭部に配置された少なくとも1つの既知の幾何学的特徴を具備する位置識別要素(60、70、80、700、800)によって得られる。それぞれのキャプチャされた画像は、前述の位置識別要素(60、70、80、700、800)の表現を含む。従って、姿勢パラメータは、これらの画像及び既知の幾何学的特徴によって算出される。
請求項（抜粋）：
対象者の頭部と関連付けられた基準フレーム(O、X、Y、Z)内における前記対象者の眼(OD、OG)の注目点(CROD、CROG)の、矢状面(PSAG)の水平方向における、位置を計測する方法であって、
S1)前記対象者の顔に対向する状態で配置された画像キャプチャ装置(90)の入射瞳孔(95)との関係における第1相対姿勢(O1、X1、Y1、Z1)において前記対象者の頭部を配置する段階と、
S2)前記第1相対姿勢において、前記画像キャプチャ装置(90)によって前記眼の第1面画像をキャプチャする段階と、
S3)前記第1画像内において、前記眼の第1既定基準点(RCG1、RCD1)の画像を識別する段階と、
S4)前記画像キャプチャ装置(90)の前記入射瞳孔(95)との関係における第2相対姿勢(O2、X2、Y2、Z2)において前記対象者の頭部を配置する段階であって、前記第2相対姿勢は、前記第1相対姿勢(O1、X1、Y1、Z1)とは別個である、段階と、
S5)前記第2相対姿勢において、前記画像キャプチャ装置(90)によって前記眼の第2面画像をキャプチャする段階と、
S6)前記眼の第2既定基準点(RCG2、RCD2)の画像を識別する段階と、
S9)前記眼の前記第1及び第2基準点(RCG1、RCD1、RCG2、RCD2)の前記画像と、前記第1及び第2相対姿勢とそれぞれ関連する姿勢パラメータ(APIV)の第1及び第2値(APIV1、APIV2)と、によって前記眼の前記注目点(CROD、CROG)の位置を算出する段階と、
を有し、
前記姿勢パラメータ(APIV)の前記値は、
前記対象者の前記頭部に位置識別要素(60、70、80、700、800)を配置する段階であって、前記要素は、少なくとも1つの幾何学的特徴を具備する、段階と、
前記位置識別要素(60、70、80、700、800)の面画像を含む、前記画像キャプチャ装置によってそれぞれの相対的な姿勢においてキャプチャされた第1及び第2面画像それぞれについて、前記画像を処理し、前記位置識別要素の前記既知の幾何学的特徴に応じて幾何学的特徴を計測する段階と、
前記位置識別要素の前記キャプチャ画像の前記計測された幾何学的特徴と、前記位置識別要素の前記既知の幾何学的特徴と、によって前記異なる姿勢の前記姿勢パラメータ(APIV)の異なる値を算出する段階と、
を使用して算出されることを特徴とする方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
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