特許
J-GLOBAL ID：201003036511630844
光学検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山内 康伸
, 中井 博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-068430
公開番号（公開出願番号）：特開2010-223613
出願日： 2009年03月19日
公開日（公表日）： 2010年10月07日
要約：
【課題】紙等のシート製造ライン等において使用する検査設備をコンパクト化できる光学検査装置を提供する。【解決手段】連続して搬送されるシートPの欠陥を検査する装置であって、シートPに対して光を照射する光源5と、光源5からシートPに照射された光を受光する受光手段2と、受光手段2と光源5の作動を制御する制御部と、受光手段2が受光した光に基づいて欠陥検出処理を行う処理部とを有する制御手段3とを備えており、光源5は、シートPに対して光を照射する角度が異なる複数の発光源を備えている。複数の発光源から異なる角度でシートPに複数の光を照射しているので、一方向からの光では検出できなかった欠陥でも検出することができる。従来、発光源ごとに必要であった受光系や制御系を一系統にすることができる。複数台の検査装置を備えていた検査設備について、検査装置の台数を少なくすることができ、検査設備を小型化することができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
連続して搬送されるシートの欠陥を検査する装置であって、
シートに対して光を照射する光源と、
光源からシートに照射された光を受光する受光手段と、
該受光手段と前記光源の作動を制御する制御部と、該受光手段が受光した光に基づいて欠陥検出処理を行う処理部とを有する制御手段とを備えており、
前記光源は、
前記シートに対して光を照射する角度が異なる複数の発光源を備えている
ことを特徴とする光学検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
2G051AA32
, 2G051AB02
, 2G051BA01
, 2G051BA08
, 2G051BB01
, 2G051BC01
, 2G051CA03
, 2G051CA06
, 2G051CB01
, 2G051CB02
, 2G051CB05
, 2G051CD06
, 2G051DA06
