特許
J-GLOBAL ID：201003037253795619
特許評価装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-166913
公開番号（公開出願番号）：特開2010-009272
出願日： 2008年06月26日
公開日（公表日）： 2010年01月14日
要約：
【課題】例えば特許公報の、所定のキーワードに係る真贋又は合致度を比較的精度良く評価する。【解決手段】特許評価装置は、所定のキーワードの、特許公報における出現位置を探索する探索手段と、当該特許公報を構成する書誌項目欄について予め規定された重み付け係数と、各書誌項目欄に出現する当該キーワードの個数との積の総計値として、当該キーワードに係る当該特許公報の合致度を算出する算出手段と、該合致度が所定閾値を越えるか否かに応じて、当該キーワードに係る当該特許公報の真贋を評価する評価手段とを備える。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
所定のキーワードの、特許公報における出現位置を探索する探索手段と、
当該特許公報を構成する書誌項目欄について予め規定された重み付け係数と、各書誌項目欄に出現する当該キーワードの個数との積の総計値として、当該キーワードに係る当該特許公報の合致度を算出する算出手段と、
該合致度が所定閾値を越えるか否かに応じて、当該キーワードに係る当該特許公報の真贋を評価する評価手段と
を備えることを特徴とする特許評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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