特許
J-GLOBAL ID:201003038411438132

ナノ細孔粒子分析器およびその準備と使用の方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-509732
公開番号(公開出願番号):特表2010-502935
出願日: 2007年05月04日
公開日(公表日): 2010年01月28日
要約:
ナノ細孔膜デバイスの調製、特徴付けおよび用途を提供する。ナノ細孔デバイスは、ガラス、溶融シリカ、セラミック、または水晶から調製された薄膜を備え、約2nm乃至約500nmの範囲の1つ以上のナノ細孔を含む。ナノ細孔は、鋭利にした金属ワイヤを使用したテンプレート法によって調製され、細孔の開口部のサイズは、電気フィードバック回路によって加工中に制御することができる。ナノ細孔デバイスは、400nm未満の半径のナノ粒子の計数および分析に特に有用である。
請求項(抜粋):
ナノ細孔デバイスであって、 厚さと、第1の側部と、第2の側部とを有する膜であって、該第1の側部が該第2の側部に対向している、膜と、 該膜を通って延在し、したがって該膜の該第1の側部および該第2の側部を接続する少なくとも1つのチャネルを形成するナノ細孔であって、該ナノ細孔は、該膜の該第1の側部へ開口する第1の開口部と、該膜の該第2の側部へ開口する第2の開口部とを有し、該ナノ細孔の該第1の開口部の半径は、約2nm乃至約500nmの範囲である、ナノ細孔と を備え、 該膜の該第1の側部と該第2の側部との間に電界を印加する手段と、 該ナノ細孔を通る電流フローおよび/または該膜の該第1の側部と該第2の側部との間の抵抗を監視する手段と、 観測された電流および/または抵抗を処理して、有用な出力を生成する手段と を含む、ナノ細孔デバイス。
IPC (1件):
G01N 15/12
FI (1件):
G01N15/12 A

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