特許

J-GLOBAL ID：201003039560226110

眼科撮影装置

発明者： 上野 登輝夫
出願人/特許権者： 株式会社ニデック
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-138929
公開番号（公開出願番号）：特開2010-227610
出願日： 2010年06月18日
公開日（公表日）： 2010年10月14日
要約：

【課題】 眼底画像から所望する断層画像を得ることができる。【解決手段】 赤外光を用いて被検眼の眼底を照明しその反射光を光検出器により受光する眼底観察光学系と、二次元的に測定光を走査する走査ユニットを持ち、低コヒーレント長の光の一部を測定光として被検眼眼底に照射するとともに低コヒーレント長の光の一部を参照光とし、該参照光と前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を受光する干渉測定系と、予め取得された眼底画像をディスプレイに表示し前記干渉測定系による測定位置を眼底画像と重ねて設定する測定位置設定手段と、測定位置が設定された眼底画像と眼底観察光学系による動画の眼底画像との対応関係を得て、眼底画像上の測定位置情報及び対応関係に基づいて、走査ユニットの動作を制御して、断層画像を得る断層画像取得手段と、を備える。【選択図】 図7

請求項（抜粋）：

眼科撮影装置において、 赤外光を用いて被検眼の眼底を照明しその反射光を光検出器により受光する眼底観察光学系と、 二次元的に測定光を走査する走査ユニットを持ち、低コヒーレント長の光の一部を測定光として被検眼眼底に照射するとともに低コヒーレント長の光の一部を参照光とし、該参照光と前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を受光する干渉測定系と、 予め取得された眼底画像をディスプレイに表示し前記干渉測定系による測定位置を眼底画像と重ねて設定する測定位置設定手段と、 測定位置が設定された眼底画像と前記眼底観察光学系による動画の眼底画像との対応関係を得て、眼底画像上の測定位置情報及び対応関係に基づいて、走査ユニットの動作を制御して、設定された測定位置に対応する干渉信号を得、干渉信号を処理して断層画像を得る断層画像取得手段と、 を備えることを特徴とする眼科撮影装置。

IPC (4件)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/14 ,  G01N 21/17

FI (5件)：

A61B3/10 R ,  A61B3/12 E ,  A61B3/14 A ,  G01N21/17 630 ,  A61B3/14 M

Fターム (16件)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 眼科装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-209132   出願人：株式会社トプコン