特許

J-GLOBAL ID：201003041516305872

スレッドラインの表面凸凹のオンライン検出のための方法及び装置

発明者： カミナー ジョン ジェイコブ
出願人/特許権者： イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー
代理人 (5件)： 熊倉 禎男 ,  小川 信夫 ,  箱田 篤 ,  浅井 賢治 ,  山崎 一夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-542860
公開番号（公開出願番号）：特表2010-513745
出願日： 2007年12月18日
公開日（公表日）： 2010年04月30日
要約：

本発明は、移動中のスレッドラインの表面凸凹のレベルをモニターするための方法および装置であって、(a)スレッドラインに対して0度超および90度未満の照射角でスレッドラインに付随して置かれた光源によってスレッドラインを照明して分光反射エネルギーおよび拡散反射エネルギーを生成する工程と、(b)スレッドラインからの分光反射エネルギーの量を、照射角に実質的に等しい反射角でスレッドラインに付随して置かれた第1受信器で測定する工程と、(c)スレッドラインからの拡散反射エネルギーの量を、照射角および反射角とは異なる角度で置かれた第2受信器で測定する工程と、(d)拡散反射エネルギーの量対分光反射エネルギーの量の比を測定する工程と、(e)前記比を表面凸凹のレベルと関係づける工程とを含む方法および装置に関する。

請求項（抜粋）：

移動中のスレッドラインの表面凸凹のレベルをモニターする方法であって、 スレッドラインに対して0度超および90度未満の照射角でスレッドラインに付随して置かれた光源によってスレッドラインを照明して分光反射エネルギーおよび拡散反射エネルギーを生成する工程と、 スレッドラインからの分光反射エネルギーの量を、照射角に実質的に等しい反射角でスレッドラインに付随して置かれた第1受信器で測定する工程と、 スレッドラインからの拡散反射エネルギーの量を、照射角および反射角とは異なる角度で置かれた第2受信器で測定する工程と、 拡散反射エネルギーの量対分光反射エネルギーの量の比を測定する工程と、 前記比を表面凸凹のレベルと関係づける工程と を含む方法。

IPC (3件)：

D06H 3/08 ,  G01N 21/892 ,  G01B 11/30

FI (3件)：

D06H3/08 ,  G01N21/892 C ,  G01B11/30 102Z

Fターム (29件)：

2F065AA50 ,  2F065BB12 ,  2F065CC00 ,  2F065FF41 ,  2F065FF51 ,  2F065GG22 ,  2F065GG24 ,  2F065HH08 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ08 ,  2F065LL34 ,  2F065LL67 ,  2G051AA44 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051CA01 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  3B154AA08 ,  3B154AB03 ,  3B154AB04 ,  3B154BA53 ,  3B154BB18 ,  3B154BB47 ,  3B154BC42 ,  3B154CA13 ,  3B154CA16 ,  3B154CA22 ,  3B154DA07