特許
J-GLOBAL ID：201003041543763785

光学式測距装置及び方法

発明者：
金道 敏樹

金道 敏樹 について

, 
曽我 峰樹

曽我 峰樹 について


出願人/特許権者：
トヨタ自動車株式会社

トヨタ自動車株式会社 について


代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  鈴木 光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-260817
公開番号（公開出願番号）：特開2010-091377
出願日： 2008年10月07日
公開日（公表日）： 2010年04月22日
要約：
【課題】外乱光が多く且つ変動する環境においても不要な測定を減少させて正しく動作する光学式測距装置及び方法を提供する。【解決手段】ヒストグラム回路337が、投光部20のパルス光投光時間とアバランシェフォトダイオード332のパルス光受光時間との時間差を繰り返し計測して時間差のヒストグラムを作成し、信号処理回路338が、ヒストグラム回路337が作成したヒストグラムの極大値に基づいて対象物までの距離を算出する3Dカメラ10において、信号処理回路338は、ヒストグラム回路337が作成したヒストグラムの信頼度を算出し、算出したヒストグラムの信頼度が閾値以上である場合に、ヒストグラム回路337にヒストグラムの作成を停止させる。これにより、外乱光が多く且つ変動する環境でも、ヒストグラムの信頼度が高いときにヒストグラムの作成を停止し、不要な測定及び演算を減らす。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
対象物へパルス光を繰り返し照射する投光手段と、 前記対象物から前記投光手段が照射した前記パルス光の反射パルス光を繰り返し受光する受光手段と、 前記投光手段が前記パルス光を照射した時刻であるパルス光投光時間と、前記受光手段が前記反射パルス光を受光した時刻であるパルス光受光時間との時間差を繰り返し計測して、前記時間差のヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、 前記ヒストグラム作成手段が作成した前記ヒストグラムの極大値に基づいて前記対象物までの距離を算出する距離算出手段と、 前記ヒストグラム作成手段が作成した前記ヒストグラムの信頼度を算出する信頼度算出手段と、 前記信頼度算出手段が算出した前記ヒストグラムの信頼度が閾値以上である場合に、前記ヒストグラム作成手段に前記ヒストグラムの作成を停止させるヒストグラム作成停止手段と、 を備えた光学式測距装置。
IPC (2件)：
G01S 17/10 ,  G01C 3/06
FI (2件)：
G01S17/10 ,  G01C3/06 120Q
Fターム (30件)：
2F112AD01 ,  2F112BA07 ,  2F112CA12 ,  2F112DA02 ,  2F112DA04 ,  2F112DA25 ,  2F112DA28 ,  2F112DA32 ,  2F112EA05 ,  2F112FA41 ,  2F112GA03 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA05 ,  5J084BA15 ,  5J084BA36 ,  5J084BA40 ,  5J084BB06 ,  5J084BB18 ,  5J084BB40 ,  5J084CA03 ,  5J084CA12 ,  5J084CA32 ,  5J084CA65 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084DA08 ,  5J084EA02 ,  5J084FA01
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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