特許

J-GLOBAL ID：201003043326568780

磁石の磁化特定方法および保磁力特定方法

発明者： 平賀 雅明 ,  小暮 智也 ,  仲西 真由美
出願人/特許権者： トヨタ自動車株式会社
代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  石川 滝治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-123170
公開番号（公開出願番号）：特開2010-271178
出願日： 2009年05月21日
公開日（公表日）： 2010年12月02日
要約：

【課題】磁石内部の部位ごとの磁化状態、もしくは保磁力分布磁石の部位ごとの保磁力をより精度よく特定することができ、もって精度のよい品質保証を実現することのできる磁石の磁化特定方法、保磁力特定方法を提供する。【解決手段】磁化状態の被特定対象となる磁石を複数に分割した際の分割磁石であって、その内部の磁束密度が特定されている分割磁石を基準分割磁石1Aとして用意し、基準分割磁石1Aの表面磁束密度を測定し、基準分割磁石に隣接する空間の空間磁束密度を測定して第1の測定結果を得る工程、基準分割磁石1Aと別途の分割磁石1A’,1A”を当接させて磁石ユニット10’を形成し、基準分割磁石1Aと別途の分割磁石1A’,1A”それぞれの表面磁束密度を測定して第2の測定結果を得る工程、第1、第2の測定結果を行列式からなる算定手段に割り当て、被特定対象となる磁石の磁化状態を特定する第3の工程、からなる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

磁化状態の被特定対象となる磁石に対して、該磁石を同形状および同寸法の複数に分割した際の分割磁石であって、その内部の磁束密度が特定されている該分割磁石を基準分割磁石として用意し、該基準分割磁石の表面磁束密度を測定し、かつ、該基準分割磁石に隣接する空間において該基準分割磁石と同形状および同寸法の単数もしくは複数の仮想分割磁石を設定して、該仮想分割磁石の表面位置で空間磁束密度を測定して第1の測定結果を得る第1の工程、 前記基準分割磁石と前記同形状および同寸法の別途の分割磁石を前記基準分割磁石に当接させて前記被特定対象となる磁石と同形状で同寸法の磁石ユニットを形成し、該磁石ユニットを構成する、基準分割磁石と単数もしくは複数の前記別途の分割磁石のそれぞれの表面磁束密度を測定して第2の測定結果を得る第2の工程、 前記第1の測定結果と前記第2の測定結果を行列式からなる算定手段に割り当てることにより、前記基準分割磁石と前記別途の分割磁石それぞれの、少なくとも残留磁束密度を含む磁化状態を特定し、特定された該磁化状態を前記被特定対象となる磁石の磁化状態と同定する第3の工程と、 からなる、磁石の磁化特定方法。

IPC (1件)：

G01R 33/12

FI (1件)：

G01R33/12 M

Fターム (5件)：

2G017AA07 ,  2G017CA01 ,  2G017CB02 ,  2G017CB15 ,  2G017CB22