特許

J-GLOBAL ID：201003046643270419

構造解析装置及び構造解析方法

発明者： 吉田 公亮 ,  伊藤 康太郎
出願人/特許権者： 株式会社IHI
代理人 (2件)： 志賀 正武 ,  渡邊 隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-049795
公開番号（公開出願番号）：特開2010-203919
出願日： 2009年03月03日
公開日（公表日）： 2010年09月16日
要約：

【課題】構造物を数値解析する構造解析装置及び構造解析方法において、構造物の設計から評価までの作業量及び時間を削減して作業効率を向上する。【解決手段】構造物を数値解析する構造解析装置であって、上記構造物に作用する一次応力及び二次応力と上記構造物のクリープ寿命とが関連付けられた応力寿命関連データを記憶する記憶手段4と、上記応力寿命関連データに基づいて上記構造物の特性を算出する算出手段5とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

構造物を数値解析する構造解析装置であって、 前記構造物に作用する一次応力及び二次応力と前記構造物のクリープ寿命とが関連付けられた応力寿命関連データを記憶する記憶手段と、 前記応力寿命関連データに基づいて前記構造物の特性を算出する算出手段と を備えることを特徴とする構造解析装置。

IPC (2件)：

G01M 19/00 ,  G06F 17/50

FI (3件)：

G01M19/00 Z ,  G06F17/50 650C ,  G06F17/50 612H

Fターム (8件)：

2G024AD01 ,  2G024AD33 ,  2G024BA12 ,  2G024DA01 ,  2G024DA16 ,  2G024FA06 ,  5B046AA02 ,  5B046JA08