特許
J-GLOBAL ID：201003046792153506
絶縁機器用水分検出システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
須山 佐一
, 須山 英明
, 川原 行雄
, 山下 聡
, 熊井 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-104385
公開番号（公開出願番号）：特開2010-256089
出願日： 2009年04月22日
公開日（公表日）： 2010年11月11日
要約：
【課題】非接触で、絶縁ガス中の水分を簡易に検出できる絶縁機器用水分検出システムを提供すること。【解決手段】本発明の一態様に係る絶縁機器用水分検出システムは、絶縁ガスが充填された容器と、赤外線を発光する赤外線発光素子と、赤外線を受光する赤外線受光素子と、絶縁ガスを介して赤外線受光素子で受光した赤外線のスペクトルを解析し、絶縁ガスに含まれる水分を検出する検出器と、を具備する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
絶縁ガスが充填された容器と、
赤外線を発光する赤外線発光素子と、
前記赤外線を受光する赤外線受光素子と、
前記絶縁ガスを介して前記赤外線受光素子で受光した赤外線のスペクトルを解析し、前記絶縁ガスに含まれる水分を検出する検出器と、
を具備する絶縁機器用水分検出システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC09
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059FF04
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059KK01
