特許
J-GLOBAL ID:201003046870382266

超音波診断装置用プローブ及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 江部 武史 ,  朝比 一夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-003824
公開番号(公開出願番号):特開2010-158522
出願日: 2010年01月12日
公開日(公表日): 2010年07月22日
要約:
【課題】超音波診断装置用プローブ及びその製造方法に対する発明の提供。【解決手段】開示された発明の超音波診断装置用プローブは、第1電極部を備える吸音層と、第1電極部に連結される圧電体と、圧電体に連結される第2電極部を備える音響整合層と、第1電極部及び第2電極部に連結されるPCBとを含む。本発明によると、圧電体とPCBとの接続作業が迅速かつ容易に行われるので、製造時間が短縮され、製造が容易であるとともに、接続部位の耐久性及び均一性が向上し、圧電体とPCBとの間の接合不良による性能低下を防止することができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1電極部を備える吸音層と、 前記第1電極部に連結される圧電体と、 前記圧電体に連結される第2電極部を備える音響整合層と、 前記第1電極部及び前記第2電極部に連結されるPCBと、を含むことを特徴とする超音波診断装置用プローブ。
IPC (3件):
A61B 8/00 ,  H04R 17/00 ,  H04R 31/00
FI (4件):
A61B8/00 ,  H04R17/00 330H ,  H04R17/00 332 ,  H04R31/00 330
Fターム (11件):
4C601BB21 ,  4C601EE10 ,  4C601GB19 ,  4C601GB20 ,  4C601GB24 ,  4C601GB32 ,  5D019AA26 ,  5D019BB18 ,  5D019BB25 ,  5D019FF04 ,  5D019HH02

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