監視装置および監視方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：吉武賢次 , 佐藤泰和 , 吉元弘 , 川崎康 , 鈴木順生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-073411
公開番号（公開出願番号）：特開2010-223859
出願日： 2009年03月25日
公開日（公表日）： 2010年10月07日
要約：

【課題】電子機器の余寿命モニタリングにおいて、通常は温度変動履歴などの機器に作用する負荷をモニタリングして寿命を推定する。しかし、モニタリングされない負荷に対する影響は考慮されず、それらの負荷により予測寿命が実際の寿命から大きく外れてしまう可能性がある。【解決手段】寿命予測したい対象接合部よりも先に壊れるダミー接合部を設置し、計測される負荷から、ダミー接合部の寿命を推定する。実際にダミー接合部が壊れるまでの負荷履歴を記録し、負荷履歴から予測された寿命が実際の寿命と大きく異なる場合、寿命予測したい対象接合部の寿命にキャリブレーション(修正)を行う。キャリブレーション(修正)は、計測される負荷から求まる寿命から、計測されない負荷による影響に基づく値を差し引くことで行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

対象接合部を介して電子部品を搭載するとともに前記電子部品または他の電子部品との間にダミー接合部が設けられた基板、を含む電子機器の監視装置であって、前記電子機器内の温度を検出する温度センサと、前記温度センサにより検出される温度の変動履歴を表す温度履歴データを記憶する温度情報データベースと、前記温度センサの温度毎に、前記対象接合部に発生するひずみ値と、前記ダミー接合部に発生するひずみ値とを記憶したセンサ温度-ひずみデータベースと、前記温度センサの温度変動に起因する所定幅のひずみ振幅と、前記所定幅のひずみ振幅のサイクル数とから、前記温度変動に起因する前記ダミー接合部および対象接合部の累積疲労を示す温度損傷値をそれぞれ計算するダミー損傷関数および対象損傷関数を格納した疲労特性データベースと、前記ダミー接合部の温度損傷値と、前記ダミー接合部に対する前記温度変動と異なる第1の負荷に起因する累積疲労を示す負荷損傷値との関係によって前記ダミー接合部の寿命を定めたダミー寿命データと、前記対象接合部の前記温度損傷値と、前記対象接合部に対する前記第1の負荷に起因する累積疲労を示す負荷損傷値との関係によって前記対象接合部の寿命を定めた対象寿命データと、前記ダミー接合部の負荷損傷値と前記対象接合部の負荷損傷値との対応関係を定めた負荷対応データと、を格納した複合負荷データベースと、前記ダミー接合部の電気特性を測定する電気特性測定部と、 (A-1)前記温度履歴データに基づき前記対象損傷関数に従って前記対象接合部の温度損傷値を計算し、 (A-2)前記対象寿命データにおいて前記対象接合部の負荷損傷値が0であるときの温度損傷値である第1のしきい値と、前記対象接合部の温度損傷値との比較に応じて前記対象接合部の寿命推定を行い、 (B-1)前記電気特性測定部により測定される電気特性に基づきダミー接合部の破断を検出したとき前記温度履歴データに基づき前記ダミー損傷関数に従って前記ダミー接合部の温度損傷値を計算し、 (B-2)前記ダミー寿命データにおいて負荷損傷値が0であるときの温度損傷値である第2のしきい値と、前記ダミー接合部の温度損傷値とを比較し、 (B-3)前記第2のしきい値と前記ダミー接合部の温度損傷値との差が所定値以上のときは前記ダミー接合部の温度損傷値と前記ダミー寿命データとから前記ダミー接合部の負荷損傷値を計算し、 (B-4)前記ダミー接合部の負荷損傷値から前記負荷対応関数に従って前記対象接合部の負荷損傷値を計算し、 (B-5)前記対象寿命データにおいて前記対象接合部の負荷損傷値に対応する温度損傷値へ前記第1のしきい値の値を変更する寿命演算部と、を備えたことを特徴とする監視装置。

IPC (3件)：

G01N 3/32 , G01N 3/00 , G01M 19/00

FI (4件)：

G01N3/32 A , G01N3/00 Q , G01N3/32 E , G01M19/00 Z

Fターム (9件)：

2G024AD27 , 2G024BA12 , 2G024CA17 , 2G024CA18 , 2G024DA12 , 2G024DA16 , 2G061BA15 , 2G061CB16 , 2G061EB03

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