解剖学的構造における深度の評価を提供する装置、プローブ、および方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：正林真之 , 林一好
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-528447
公開番号（公開出願番号）：特表2010-503475
出願日： 2007年09月12日
公開日（公表日）： 2010年02月04日
要約：

【課題】解剖学的構造の少なくとも一部に関する情報を得る装置および方法が提供可能である。【解決手段】例えば、少なくとも1つの第1の配置構成を用いて少なくとも1つの第1の電磁放射を少なくとも一部に送ることができる。さらに少なくとも1つの第2の配置構成を用いて、試料から少なくとも1つの第2の電磁放射を検出することができ、第2の電磁放射は第1の電磁放射に関連される。第2の配置構成は複数の積分時間において第2の電磁放射に関連されるデータを得るために用いられることができる。さらに少なくとも1つの第3の配置構成を用いて、第2の電磁放射を用いて一部内の深度の関数として少なくとも1つの動きの性質を決定可能である。動きの性質は第2の電磁放射に関連付けられたデータを得ることによって決定可能である。データは第2の配置構成によって検出されたスペックルデータであってもよい。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

解剖学的構造の少なくとも一部に関する情報を得る装置であって、少なくとも1つの第1の電磁放射を前記少なくとも一部に送るように構成される、少なくとも1つの第1の配置構成と、少なくとも1つの試料から少なくとも1つの第2の電磁放射を検出するように構成される少なくとも1つの第2の配置構成であって、前記少なくとも1つの第2の電磁放射は前記少なくとも1つの第1の電磁放射に関連され、前記少なくとも1つの第2の配置構成は、複数の積分時間において、前記少なくとも1つの第2の電磁放射に関連されるデータを得る、少なくとも1つの第2の配置構成と、前記少なくとも1つの第2の電磁放射を用いて、前記少なくとも一部内の深度の関数として、少なくとも1つの動きの性質を決定するように構成される、少なくとも1つの第3の配置構成であって、前記少なくとも1つの第3の配置構成は、前記少なくとも1つの第2の電磁放射に関連されるデータを得ることによって、前記少なくとも1つの動きの性質を決定し、前記データは前記少なくとも1つの第2の配置構成によって検出されるスペックルデータである、少なくとも1つの第3の配置構成と、を備える、装置。

IPC (4件)：

A61B 5/00 , A61B 10/00 , G01N 21/17 , A61B 5/145

FI (5件)：

A61B5/00 M , A61B10/00 E , A61B10/00 Q , G01N21/17 A , A61B5/14 320

Fターム (30件)：

2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059FF04 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG08 , 2G059HH02 , 2G059HH06 , 2G059JJ11 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059JJ23 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 4C038KL07 , 4C038KM01 , 4C038KX02 , 4C038KY04 , 4C117XA04 , 4C117XB01 , 4C117XC19 , 4C117XE36 , 4C117XE43 , 4C117XE57 , 4C117XH02 , 4C117XJ01 , 4C117XK18

前のページに戻る