特許

J-GLOBAL ID：201003060146098354

誘発電位検査装置及び誘発電位検査システム

発明者： 谷萩 隆嗣 ,  井川 信子 ,  デウィ クスマ
出願人/特許権者： 国立大学法人 千葉大学
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2007068638
公開番号（公開出願番号）：WO2008-038650
出願日： 2007年09月26日
公開日（公表日）： 2008年04月03日
要約：

高い検査精度を有しながらもより測定時間の短縮を行うことが可能な誘発電位検査装置を提供する。ASSR誘発電位信号デ-タを記録するASSR誘発電位信号デ-タ記録部と、ASSR誘発電位信号デ-タ記録部が記録したASSR誘発電位信号デ-タに対してカルマンフィルタによる波形推定処理を行う波形推定処理部と、波形推定処理部が推定した波形信号デ-タに対して聴力判定処理を行う聴力判定処理部と、聴力判定処理部が処理した結果を表示装置に表示させるための表示制御部とを有する誘発電位検査装置とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

ASSR誘発電位信号デ-タを記録するASSR誘発電位信号デ-タ記録部と、 前記ASSR誘発電位信号デ-タ記録部が記録した前記ASSR誘発電位信号デ-タに対してカルマンフィルタによる波形推定処理を行う波形推定処理部と、 前記波形推定処理部が推定した波形信号デ-タに対して聴力判定処理を行う聴力判定処理部と、 前記聴力判定処理部が処理した結果を表示装置に表示させるための表示制御部と、を有する誘発電位検査装置。

IPC (1件)：

A61B 5/12

FI (1件)：

A61B5/12

Fターム (6件)：

4C038AA01 ,  4C038AA04 ,  4C038AA05 ,  4C038AB01 ,  4C038AB07 ,  4C038AB09