特許
J-GLOBAL ID：201003060239951359
プラントの異常診断装置及び異常診断方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
井上 学
, 戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-083989
公開番号（公開出願番号）：特開2010-237893
出願日： 2009年03月31日
公開日（公表日）： 2010年10月21日
要約：
【課題】本発明の目的は、誤診の可能性を低減するプラントの診断装置を提供することにある。【解決手段】プラントの計測信号を保存する計測信号データベースと、正常時又は異常時のデータをカテゴリーに分類したカテゴリー分類情報と前記カテゴリー分類情報の出現回数が保存されている異常判定データベースと、前記計測信号データベースに保存されているデータをカテゴリーに分類した結果と前記異常判定データベースに保存されているカテゴリー分類情報をカテゴリー分類情報の出現回数の情報を用いて比較することでプラントの運転状態を診断し、診断の結果が異常であった場合には、異常を知らせる情報を画像表示データとして出力する比較手段を備えた診断装置。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
プラントの計測信号を保存する計測信号データベースと、
正常時又は異常時のデータをカテゴリーに分類したカテゴリー分類情報と、前記カテゴリー分類情報の出現回数が保存されている異常判定データベースと、
前記計測信号データベースに保存されているデータをカテゴリーに分類した結果と前記異常判定データベースに保存されているカテゴリー分類情報をカテゴリー分類情報の出現回数の情報を用いて比較することでプラントの運転状態を診断し、診断の結果が異常であった場合には、異常を知らせる情報を画像表示データとして出力する比較手段を備えたことを特徴とした診断装置。
IPC (1件)：
FI (3件)：
G05B23/02 T
, G05B23/02 302S
, G05B23/02 301Q
5H223AA02
, 5H223BB01
, 5H223BB04
, 5H223BB08
, 5H223EE30
, 5H223FF09
