特許
J-GLOBAL ID:201003061143664037
インピーダンス測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
恩田 博宣
, 恩田 誠
, 本田 淳
, 池上 美穂
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-519310
公開番号(公開出願番号):特表2010-535544
出願日: 2008年08月07日
公開日(公表日): 2010年11月25日
要約:
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法である。本方法は、処理システムにおいて、第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定することと、第2電極構成を用いて上記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定することと、第1インピーダンス値および第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定することとを含む。
請求項(抜粋):
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法であって、
処理システムにおいて、
a)第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定するステップと、
b)第2電極構成を用いて前記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定するステップと、
c)前記第1インピーダンス値および前記第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定するステップと、
を含む方法。
IPC (3件):
A61B 5/040
, A61B 5/049
, G01R 27/02
FI (2件):
A61B5/04 300E
, G01R27/02 A
Fターム (11件):
2G028AA01
, 2G028BC01
, 2G028BC07
, 2G028CG08
, 2G028DH05
, 2G028DH06
, 2G028FK01
, 2G028FK02
, 2G028GL12
, 2G028HN11
, 2G028HN13
引用特許:
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