特許
J-GLOBAL ID:201003061143664037

インピーダンス測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 恩田 博宣 ,  恩田 誠 ,  本田 淳 ,  池上 美穂
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-519310
公開番号(公開出願番号):特表2010-535544
出願日: 2008年08月07日
公開日(公表日): 2010年11月25日
要約:
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法である。本方法は、処理システムにおいて、第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定することと、第2電極構成を用いて上記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定することと、第1インピーダンス値および第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定することとを含む。
請求項(抜粋):
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法であって、 処理システムにおいて、 a)第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定するステップと、 b)第2電極構成を用いて前記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定するステップと、 c)前記第1インピーダンス値および前記第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定するステップと、 を含む方法。
IPC (3件):
A61B 5/040 ,  A61B 5/049 ,  G01R 27/02
FI (2件):
A61B5/04 300E ,  G01R27/02 A
Fターム (11件):
2G028AA01 ,  2G028BC01 ,  2G028BC07 ,  2G028CG08 ,  2G028DH05 ,  2G028DH06 ,  2G028FK01 ,  2G028FK02 ,  2G028GL12 ,  2G028HN11 ,  2G028HN13
引用特許:
審査官引用 (1件)

前のページに戻る