特許

J-GLOBAL ID：201003064462472263

太陽電池モジュールの検査方法及び検査装置

発明者： 久松 正
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (3件)： 佐野 静夫 ,  井上 温 ,  渋谷 和俊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-094502
公開番号（公開出願番号）：特開2010-245410
出願日： 2009年04月09日
公開日（公表日）： 2010年10月28日
要約：

【課題】非破壊で比較的容易に、太陽電池モジュール内に封止された太陽電池セルのI-V特性のうちの逆方向特性を、1セル(但し、太陽電池モジュールが太陽電池セルを直並列している構造の場合は、並列接続されている複数の太陽電池セルを1セルとみなす)単位で定量的に検査することができる太陽電池モジュールの検査方法の概念を提供する。【解決手段】「モジュール全面に光があたっている場合の太陽電池モジュールのI-V特性」を測定するステップと、「所望のセルだけを影で覆った場合の太陽電池モジュールのI-V特性」(A0)を測定するステップと、前記「モジュール全面に光があたっている場合の太陽電池モジュールのI-V特性」と前記「所望のセルだけを影で覆った場合の太陽電池モジュールのI-V特性」(B0)とに基づき、前記所望のセルの逆方向特性を求めるステップとを備える太陽電池モジュールの検査方法。【選択図】図10A

請求項（抜粋）：

「モジュール全面に光があたっている場合の太陽電池モジュールのI-V特性」を測定するステップと、 「所望のセルだけを影で覆った場合の太陽電池モジュールのI-V特性」を測定するステップと、 前記「モジュール全面に光があたっている場合の太陽電池モジュールのI-V特性」と前記「所望のセルだけを影で覆った場合の太陽電池モジュールのI-V特性」とに基づき、前記所望のセルの逆方向特性を求めるステップとを備えることを特徴とする太陽電池モジュールの検査方法。

IPC (1件)：

H01L 31/04

FI (1件)：

H01L31/04 K

Fターム (6件)：

5F051EA02 ,  5F051JA06 ,  5F051KA09 ,  5F151EA02 ,  5F151JA07 ,  5F151KA09

引用文献：

審査官引用 (1件)

• 「発電電力が低下したPVモジュ-ルのI-V特性に及ぼすPVセルの逆バイアス特性の影響」