特許
J-GLOBAL ID:201003064988444884
コアシェル粒子の分析法
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
平木 祐輔
, 石井 貞次
, 藤田 節
, 関口 鶴彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-285110
公開番号(公開出願番号):特開2010-112816
出願日: 2008年11月06日
公開日(公表日): 2010年05月20日
要約:
【課題】高コントラスト観察とライン分析による粒子内の組成分析を可能とし、コアシェル粒子を容易に同定する。【解決手段】被検物であるコアシェル粒子を担体に担持する工程を含むことを特徴とするコアシェル粒子の分析法である。このコアシェル粒子の分析法には、更に、コアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡によりコアシェル構造であることを確認する工程、及びコアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡により組成分析する工程を付加することができる。【選択図】図3
請求項(抜粋):
被検物であるコアシェル粒子を担体に担持する工程を含むことを特徴とするコアシェル粒子の分析法。
IPC (4件):
G01N 23/04
, G01N 23/225
, G01N 1/28
, G01N 15/10
FI (4件):
G01N23/04
, G01N23/225
, G01N1/28 F
, G01N15/10 A
Fターム (24件):
2G001AA03
, 2G001BA05
, 2G001BA11
, 2G001BA14
, 2G001CA01
, 2G001CA03
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001KA01
, 2G001KA12
, 2G001LA02
, 2G001MA04
, 2G001MA05
, 2G001NA12
, 2G001NA15
, 2G001NA17
, 2G001RA02
, 2G052AA11
, 2G052AD29
, 2G052AD55
, 2G052DA33
, 2G052FD18
, 2G052GA34
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