特許
J-GLOBAL ID：201003071171314314
超音波計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田宮 寛祉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-012859
公開番号（公開出願番号）：特開2010-169558
出願日： 2009年01月23日
公開日（公表日）： 2010年08月05日
要約：
【課題】複数の反射信号が時間領域で近接し波形が干渉する場合に、内部欠陥の情報を正確に再現性よく安定して抽出し、明瞭に画像化できる超音波計測装置を提供する。【解決手段】超音波計測装置は、超音波探触子16で被検体15の表面を走査し、超音波探触子から被検体に向けて超音波U1を送出しかつ被検体から戻る反射エコーU2を受信し、反射エコーから生成される受信波形データを演算処理手段(波形演算処理プログラム37)で処理し、被検体の内部欠陥51を検査する。演算処理手段は、複数の反射エコーが干渉し合う状態にある受信波形データに対してウェーブレット変換処理を行い内部欠陥の波形特徴を抽出し、映像化する波形特徴抽出手段を有する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
超音波探触子で被検体の表面を走査し、前記超音波探触子から前記被検体に向けて超音波を送出しかつ前記被検体から戻る反射エコーを受信し、前記反射エコーから生成される受信波形データを演算処理手段で処理し、前記被検体の内部欠陥を検査する超音波映像装置において、
前記演算処理手段は、複数の前記反射エコーが干渉し合う状態にある前記受信波形データに対してウェーブレット変換処理を行い前記内部欠陥の波形特徴を抽出する波形特徴抽出手段を有することを特徴とする超音波計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G047AA08
, 2G047AB05
, 2G047BA03
, 2G047BB06
, 2G047BC09
, 2G047BC10
, 2G047DB12
, 2G047EA10
, 2G047EA11
, 2G047GF06
, 2G047GG09
, 2G047GG15
, 2G047GG17
, 2G047GG19
, 2G047GG21
, 2G047GG33
, 2G047GH07
