特許

J-GLOBAL ID：201003072605535620

漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュール

発明者： 野々村 雅徳 ,  清水 秀彦 ,  小山 淳史 ,  長谷 真吾 ,  金子 大輔 ,  松浦 寛
出願人/特許権者： 東京特殊電線株式会社 ,  古河電気工業株式会社
代理人 (1件)： 有近 紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-000493
公開番号（公開出願番号）：特開2010-159971
出願日： 2009年01月06日
公開日（公表日）： 2010年07月22日
要約：

【課題】漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールを提供する。【解決手段】接合点(1)で、コア部を一部ずらせて2本の光ファイバ(11,12)を接合し、その接合点(1)からの漏れ光を光センサ(6)で測定する。【効果】2本の光ファイバ(11,12)を接合するときのコア部のずらせ方を小さくすれば漏れ光量を少なくでき、大きくすれば漏れ光量を多くできる。光ファイバ(11,12)の端面を凸球面形状に研磨する工程は必要ない。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

コア部を一部ずらせて2本の光ファイバを接合し、その接合点からの漏れ光を測定することを特徴とする漏れ光測定方法。

IPC (3件)：

G01J 1/04 ,  G01J 1/02 ,  G02B 6/38

FI (3件)：

G01J1/04 Z ,  G01J1/02 M ,  G02B6/38

Fターム (7件)：

2G065AA04 ,  2G065AB04 ,  2G065AB09 ,  2G065BB02 ,  2H036MA02 ,  2H036MA06 ,  2H036NA14

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開昭63-304209