特許
J-GLOBAL ID：201003073834450490
3次元形状計測装置および方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
久保 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-331727
公開番号（公開出願番号）：特開2010-151697
出願日： 2008年12月26日
公開日（公表日）： 2010年07月08日
要約：
【課題】撮像素子単体により得られる解像度よりも高い解像度を高い精度で得ること。【解決手段】対象物Qに向かって投射した検出光Uの反射光を撮像素子52の撮像面で受光し、撮像素子で取得された撮像データDSに基づいて対象物の3次元形状を計測する3次元形状計測装置1であって、撮像素子が微小距離移動可能に設けられており、撮像素子の移動前と移動後とにおいて撮像を行って撮像データDSを取得するとともに、そのときの撮像素子の移動量KDを計測し、撮像素子の移動前に取得した撮像データ、移動後に取得した撮像データ、および撮像素子の移動量KDとに基づいて、いずれの撮像データから得られる3次元形状データよりも解像度の高い3次元形状データを得る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
対象物に向かって投射した検出光の反射光を撮像素子の撮像面で受光し、前記撮像素子で取得された撮像データに基づいて前記対象物の3次元形状を計測する3次元形状計測装置であって、
前記撮像素子が微小距離移動可能に設けられており、
前記撮像素子の移動前と移動後とにおいて撮像を行って撮像データを取得するとともに、そのときの前記撮像素子の移動量を計測し、
前記撮像素子の移動前に取得した撮像データ、移動後に取得した撮像データ、および前記撮像素子の移動量とに基づいて、いずれの前記撮像データから得られる3次元形状データよりも解像度の高い3次元形状データを得る、
ことを特徴とする3次元形状計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065FF04
, 2F065HH05
, 2F065JJ19
, 2F065JJ26
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
