特許
J-GLOBAL ID:201003074719495460
パンタグラフ型集電装置の検査装置及びパンタグラフ型集電装置の検査方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
ポレール特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-311681
公開番号(公開出願番号):特開2010-136563
出願日: 2008年12月08日
公開日(公表日): 2010年06月17日
要約:
【課題】本発明は、安価にてすり板の正確な摩耗量や荒損位置を測定できるパンタグラフ型集電装置の検査装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、停止中の電車1のすり板4の表面に、ビームを連続的に照射してすり板4の表面形状データ33を取得し、この取得された表面形状データ33と予め取得しておいた設計データとを比較してすり板4の摩耗量を求めるようにしたのである。 このようにビームをすり板4の表面に連続的に照射して測定することで、正確な摩耗量や荒損位置を測定することが可能となり、しかも高価なビームセンサ10を複数用いる必要がなくなるので、すり板4の正確な荒損や荒損位置を安価に測定できるパンタグラフ型集電装置の検査装置を得ることができる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
電車を規定位置に誘導する電車誘導手段と、規定位置に設置され電車のパンタグラフに支持されたすり板の表面を連続的に測定するビームセンサと、このビームセンサの前記すり板に対する位置を移動制御するセンサ駆動機構と、前記ビームセンサからの出力信号に基づいて前記すり板の表面形状データを作成する情報処理端末手段とを備え、この情報処理端末手段は、作成された前記表面形状データと予め格納された設計データとを比較して前記すり板の摩耗量を求めるように構成されていると共に、前記センサ駆動機構へ前記ビームセンサの移動指示を行うように構成されていることを特徴とするパンタグラフ型集電装置の検査装置。
IPC (3件):
B60L 3/00
, B60L 5/24
, G01B 11/24
FI (3件):
B60L3/00 N
, B60L5/24 Z
, G01B11/24 A
Fターム (32件):
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065AA63
, 2F065CC00
, 2F065FF41
, 2F065GG04
, 2F065HH04
, 2F065JJ03
, 2F065MM07
, 2F065PP04
, 2F065PP22
, 5H105AA11
, 5H105BA02
, 5H105BB01
, 5H105CC02
, 5H105CC12
, 5H105DD03
, 5H105DD07
, 5H105EE02
, 5H105EE07
, 5H105EE13
, 5H105GG05
, 5H105GG14
, 5H115PC02
, 5H115PG01
, 5H115PI01
, 5H115PI29
, 5H115PU01
, 5H115SE10
, 5H115TO30
, 5H115TR15
, 5H115UB08
引用特許:
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