特許

J-GLOBAL ID：201003077376710253

基板検査装置用プローブピン

発明者： 沼田 清 ,  春日部 進
出願人/特許権者： 日本電産リード株式会社
代理人 (1件)： 高橋 要泰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-128126
公開番号（公開出願番号）：特開2010-276428
出願日： 2009年05月27日
公開日（公表日）： 2010年12月09日
要約：

【課題】 端部に球面状の接触部が一体的に形成された筒状のプローブピンを提供する。【解決手段】 検査基板の配線の電気的特性を検査するための基板検査装置用の検査治具に取り付けられるプローブピンである。プローブピンは、検査治具に保持される本体部と、本体部の一方の端部に本体部と一体的に形成された半球面を有する接触部と、本体部の他方の端部にある後端部とを備える。基板検査時に、接触部は、検査基板の配線の所定の検査点と接触し、後端部は、基板検査装置の電極部と電気的に導通する。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

検査基板の配線の電気的特性を検査するための基板検査装置用の検査治具に取り付けられるプローブピンであって、 前記検査治具に保持される本体部と、 前記本体部の一方の端部に該本体部と一体的に形成された、半球面を有する接触部であって、前記検査基板の配線の所定の検査点との接触用の接触部と、 前記本体部の他方の端部にある後端部であって、前記基板検査装置の電極部との接触用の後端部とを備える、プローブピン。

IPC (3件)：

G01R 1/067 ,  G01R 31/28 ,  H05K 3/00

FI (3件)：

G01R1/067 A ,  G01R31/28 K ,  H05K3/00 T

Fターム (9件)：

2G011AA03 ,  2G011AA12 ,  2G011AC14 ,  2G011AE01 ,  2G011AF06 ,  2G132AA00 ,  2G132AD15 ,  2G132AF02 ,  2G132AL03