特許
J-GLOBAL ID：201003078523917728

電磁負荷回路の故障診断装置

発明者：
大浦 亮一

大浦 亮一 について

, 
渡部 光彦

渡部 光彦 について

, 
黛 拓也

黛 拓也 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 平木 祐輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-223930
公開番号（公開出願番号）：特開2010-062675
出願日： 2008年09月01日
公開日（公表日）： 2010年03月18日
要約：
【課題】電磁負荷回路が含むFETのようなスイッチ素子のレアショートを検出し、電磁負荷回路の故障診断を的確に行う。【解決手段】ハイサイドスイッチ素子、ロウサイドスイッチ素子あるいは電磁負荷自身が、ある所定のインピーダンスを持った状態で、電源電圧端子もしくはグランドに短絡したレアショートを検出し、故障診断を行う故障診断回路101を設ける。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電源電圧端子とグランドとの間に設けられた電磁負荷の前記電源電圧端子の側にハイサイドスイッチ素子が接続され、前記グランドの側にロウサイドスイッチ素子が接続され、前記ハイサイドスイッチ素子と前記ロウサイドスイッチ素子をスイッチ素子駆動信号生成回路の制御信号により開閉する電磁負荷回路の故障診断装置であって、 前記ハイサイドスイッチ素子、前記ロウサイドスイッチ素子あるいは前記電磁負荷自身が、ある所定のインピーダンスを持った状態で、前記電源電圧端子もしくはグランドに短絡したレアショートを検出し、故障診断を行う故障診断手段を有することを特徴とする電磁負荷回路の故障診断装置。
IPC (4件)：
H03K 17/08 ,  H03K 17/695 ,  G01R 31/06 ,  H03K 17/00
FI (4件)：
H03K17/08 C ,  H03K17/687 B ,  G01R31/06 ,  H03K17/00 B
Fターム (25件)：
2G014AA03 ,  2G014AA27 ,  2G014AB22 ,  2G014AB28 ,  2G014AB49 ,  2G014AB51 ,  2G014AC19 ,  5J055AX34 ,  5J055AX40 ,  5J055AX64 ,  5J055BX16 ,  5J055CX07 ,  5J055CX13 ,  5J055CX28 ,  5J055DX10 ,  5J055DX22 ,  5J055EX07 ,  5J055EY12 ,  5J055EY21 ,  5J055EZ34 ,  5J055EZ39 ,  5J055FX04 ,  5J055FX12 ,  5J055FX22 ,  5J055GX02
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (7件)
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