特許

J-GLOBAL ID：201003078920490153

枠状物体における内側表面の検査装置

発明者： 芦田 和毅
出願人/特許権者： 独立行政法人国立高等専門学校機構
代理人 (1件)： 三枝 弘明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-080117
公開番号（公開出願番号）：特開2010-230573
出願日： 2009年03月27日
公開日（公表日）： 2010年10月14日
要約：

【課題】枠状物体における内側表面に疵や汚れあるいは微小な窪みの有無を検査する装置を提供する。【解決手段】カメラで撮影した検査する枠状物体4の内側表面4aを撮影し、コンピュータにより画像の解析によって疵や汚れあるいは微小な窪みの有無を検査する。内側表面4aを撮影するために、錐台型の反射体3を当該物体4の内側に設置し、内側表面4aの像を枠状の傾斜反射面3aにより反射させてカメラ1により撮影する。カメラ1側には枠状光源2を配置することが好ましい。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

枠状物体(4)における内側表面(4a)の検査装置であって、該内側表面(4a)の内側に対向配置され、一方側に傾斜した枠状の傾斜反射面(3a)を備えた反射体(3)と、該傾斜反射面(3a)を前記一方側より撮影する撮影手段(1)と、を具備することを特徴とする枠状物体における内側表面の検査装置。

IPC (1件)：

G01N 21/88

FI (1件)：

G01N21/88 Z

Fターム (6件)：

2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051AB07 ,  2G051CA04 ,  2G051CB05 ,  2G051EB01