特許

J-GLOBAL ID：201003079121364427

質量分析計及び質量分析方法

発明者： ベイトマン・ロバート・ハロルド ,  ジャイルズ・ケビン ,  プリングル・スティーブン・デレク ,  ワイルドグース・ジェイソン・リー
出願人/特許権者： マイクロマス・ユーケイ・リミテッド
代理人 (1件)： 特許業務法人明成国際特許事務所
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-536790
公開番号（公開出願番号）：特表2010-509744
出願日： 2007年11月15日
公開日（公表日）： 2010年03月25日
要約：

【解決手段】イオン移動度分析計(8)と、イオンゲート(9)とを含む質量分析計が開示される。イオンゲート(9)の下流に、衝突セル(10)が配置される。イオン移動度分析計(8)及びイオンゲート(9)の動作は、特定の質量電荷比と、所望の荷電状態とを有するイオンのみが衝突セル(10)へと前方に伝送されるように、同期化される。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

第1の範囲内の質量電荷比を有する親イオン又は前駆イオンを伝送するために第1の動作モードに適応するように構成される第1の質量電荷比フィルタ又は第1の質量電荷比質量分析器と、 イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器と、 動作モードにおいてイオンを減衰又は逸らせるための減衰手段と、 衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置と、 前記第1の範囲内の質量電荷比を有するが1つ又は2つ以上の望ましくない第1の荷電状態を有するイオンが実質的に減衰されるように前記減衰手段の動作を制御するように構成され適応される制御装置と、 を備える、質量分析計。

IPC (4件)：

H01J 49/40 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/42 ,  G01N 27/62

FI (7件)：

H01J49/40 ,  H01J49/06 ,  H01J49/42 ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 E ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 H

Fターム (23件)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA01 ,  2G041DA02 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA12 ,  2G041DA13 ,  2G041DA14 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA29 ,  5C038FF07 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ04 ,  5C038JJ11