記録装置、制御方法及びプログラム

発明者： , , , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：丸山隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-064934
公開番号（公開出願番号）：特開2010-214807
出願日： 2009年03月17日
公開日（公表日）： 2010年09月30日
要約：

【課題】印字の位置ずれを正確に調整することが可能な記録装置を提供する。【解決手段】第1のテストパターン101と、第2のテストパターン102と、で構成された複数のテストパターン群(A〜E)を形成する。次に、各テストパターン群(A〜E)の検知信号を解析し、各テストパターン群(A〜E)の周波数特性を取得する。そして、各テストパターン群(A〜E)の周波数特性を比較し、予め定めた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群(A〜E)の中から調整用テストパターン群(C)を特定する。そして、調整用テストパターン群(C)の第2のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

インクを吐出する記録ヘッドを往復させ、記録ヘッドの往復移動時に記録媒体上に像を記録する記録装置であって、往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第1のテストパターンを印字する第1の記録手段と、復路移動時に、前記第1のテストパターンの印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして前記第1のテストパターンと重ならない第2のテストパターンを印字し、前記第1のテストパターンと、前記第2のテストパターンと、で構成された複数のテストパターン群を形成する第2の記録手段と、前記テストパターン群を構成する前記第1のテストパターンと前記第2のテストパターンとを検知し、各テストパターン群の検知信号を取得する検知手段と、各テストパターン群の検知信号を解析し、各テストパターン群の周波数特性を取得する解析手段と、各テストパターン群の周波数特性を比較し、予め定められた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群の中から調整用テストパターン群を特定する特定手段と、前記調整用テストパターン群の第2のテストパターンを印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する決定手段と、を有することを特徴とする記録装置。

IPC (3件)：

B41J 2/01 , B41J 29/46 , B41J 19/18

FI (3件)：

B41J3/04 101Z , B41J29/46 A , B41J19/18 B

Fターム (18件)：

2C056EA07 , 2C056EB27 , 2C056EB36 , 2C056EC25 , 2C056EC37 , 2C056EC77 , 2C056FA11 , 2C061AQ05 , 2C061AR01 , 2C061KK18 , 2C061KK26 , 2C061KK28 , 2C480CA17 , 2C480CA31 , 2C480CA36 , 2C480CB31 , 2C480CB35 , 2C480EC05

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