特許

J-GLOBAL ID：201003082511274284

3次元形状計測方法

発明者： 瀬戸 秀樹
出願人/特許権者： 横浜ゴム株式会社
代理人 (1件)： 野田 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-074917
公開番号（公開出願番号）：特開2010-230317
出願日： 2009年03月25日
公開日（公表日）： 2010年10月14日
要約：

【課題】処理の簡素化を図りつつ測定対象物の3次元形状をより高精度に測定する上で有利な3次元形状計測方法を提供する。【解決手段】第1マーク60Aと第2マーク60Bとで構成された被撮像パターン50を撮像して得た画像データから被撮像パターンが形成された表面の3次元形状を求める。第1マーク60Aと第2マーク60Bとを複数のマークエレメント62に分割する。互いに第1マーク60Aの位置がマークエレメント62の1つ分X方向およびY方向において異なり、かつ、第1マーク60Aの色をR,G,Bとした第1、第2、第3のパターン70、72、74を形成する。第1、第2、第3のパターン70、72、74を重ね合わせる。被撮像パターン50は、3原色のうちの1つの原色を共通に含む色を有してX方向またはY方向に並ぶ3つのマークエレメント62の組み合わせを含んで構成される。【選択図】図15

請求項（抜粋）：

正方形状を呈し互いに色が異なる第1マークと第2マークとが互いに直交するX方向とY方向とに沿って格子状に並べられることで構成される被撮像パターンを測定対象物の表面に形成しておき、前記被撮像パターンを2台の撮像装置によって撮像して得た画像データを演算処理することにより前記被撮像パターンが形成された前記表面の3次元形状を求める3次元形状測定方法であって、 複数の第1マークと複数の第2マークとを配置することで矩形状の基本パターンを形成し、 前記基本パターンを構成する前記第1マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメントに分割し、 前記基本パターンを構成する前記第2マークをX方向およびY方向のそれぞれにおいて3等分することにより9つのマークエレメントに分割し、 前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうちから選択された第1の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBL(黒)とすることで第1のパターンを形成し、 前記第1のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうち前記第1の原色を除く残り2つの原色から選択された第2の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBLとすることで第2のパターンを形成し、 前記第2のパターンに対して、前記第1マークおよび前記第2マークを、X方向に1つのマークエレメント分変位させ、かつ、Y方向に1つのマークエレメント分変位させた状態で、前記第1マークの9つのマークエレメントの色を3原色のうちの残り1つの原色である第3の原色とすると共に、前記第2マークの9つのマークエレメントの色をBLとすることで第3のパターンを形成し、 前記第1、第2、第3のパターンを重ね合わせることにより、前記第1マークおよび前記第2マークを構成し、 それら第1マークおよび第2マークにより前記被撮像パターンを構成した、 ことを特徴とする3次元形状測定方法。

IPC (1件)：

G01B 11/245

FI (1件)：

G01B11/245 H

Fターム (14件)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB16 ,  2F065BB28 ,  2F065CC13 ,  2F065EE00 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP13