特許

J-GLOBAL ID：201003084659470433

光学特性測定装置

発明者： 三木 伸一
出願人/特許権者： 長崎県
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-084051
公開番号（公開出願番号）：特開2010-236973
出願日： 2009年03月31日
公開日（公表日）： 2010年10月21日
要約：

【課題】光学特性の測定において、人組織のように層構造を持つものや、散乱性が種類や形状によって大きく異なるものは、目的に応じて発光部と受光部の距離を変える必要がある。そこで、異なる測定部位からの情報を得るために、複数個の受光素子からなる測定装置を用いるか、機械的に受光素子の位置を移動させるかである。しかしながら、複数個所の受光位置での測定は、発光部の強度変動等の影響を測定値がうけるという問題がある。【解決手段】被検体である光散乱体に接触可能な発光部と、発光部の中心からの距離が異なる少なくとも2つの受光部を備え、発光部と参照信号用受光部の距離は一定とし、測定信号用受光部における光強度を距離を変えて少なくとも2箇所で測定し、それぞれの位置における相対反射強度の比をとることで、発光部の変動の影響を受けずに、任意の位置での光学特性の測定を行うことができる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被検体である光散乱体に接触可能な発光部と、発光部の中心からの距離が異なる少なくとも2つの受光部を備え、発光部と参照信号用受光部の距離は一定とし、測定信号用受光部における光強度を受光部からの距離を変えて少なくとも2箇所で測定し、それぞれの位置における相対反射強度から、光学特性を測定する装置。

IPC (1件)：

G01N 21/17

FI (1件)：

G01N21/17 610

Fターム (9件)：

2G059AA02 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK03