特許

J-GLOBAL ID：201003089278188164

質量分析装置および質量分析方法

発明者： 吉岡 信二 ,  竹田 明弘 ,  師子鹿 司
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-191580
公開番号（公開出願番号）：特開2010-032227
出願日： 2008年07月25日
公開日（公表日）： 2010年02月12日
要約：

【課題】 検出可能なフラグメントイオンのピークの数を増やした、電子捕獲解離を用いる質量分析装置を提供する。【解決手段】 本発明の質量分析装置は、試料からイオンの生成を行うイオン源2と、イオンの蓄積および選択を行うイオントラップ部3と、イオンを電子捕獲解離するイオン解離部4と、イオンの質量分析を行う飛行時間質量分析部7と、を備えた質量分析装置であって、質量分析を行ったイオンの価数に応じて電子捕獲解離の反応時間が可変である。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

試料からイオンの生成を行うイオン源部と、 イオンの蓄積および選択を行うイオントラップ部と、 イオンを電子捕獲解離するイオン解離部と、 イオンの質量分析を行う質量分析部と、を備えた質量分析装置であって、 質量分析を行ったイオンの価数の大きさに応じて前記電子捕獲解離の反応時間が可変であることを特徴とする質量分析装置。

IPC (4件)：

G01N 27/64 ,  H01J 49/42 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/40

FI (4件)：

G01N27/64 C ,  H01J49/42 ,  H01J49/06 ,  H01J49/40

Fターム (18件)：

2G041CA01 ,  2G041CA03 ,  2G041DA05 ,  2G041EA04 ,  2G041EA12 ,  2G041FA12 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA10 ,  2G041HA01 ,  2G041KA01 ,  2G041LA07 ,  5C038FF10 ,  5C038FF13 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ05 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ11

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 米国特許第4736101号
  
• 電子捕獲解離反応装置及び電子捕獲解離を備えた質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-160861   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ