特許
J-GLOBAL ID：201003093767568422
分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
阿部 琢磨
, 黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-288818
公開番号（公開出願番号）：特開2010-190887
出願日： 2009年12月21日
公開日（公表日）： 2010年09月02日
要約：
【課題】 物体からのテラヘルツ波のうち、物体における任意の位置からのテラヘルツ波を選択的に検出すること。【解決手段】 以下を備える分析装置である。まず、発生部101から発生したテラヘルツ波を物体107における第1の位置121に集光させる第1の光学部111を備える。次に、物体107からのテラヘルツ波を第2の位置122に集光させる第2の光学部112を備える。また、第2の位置122に集光したテラヘルツ波を第3の位置123に集光させる第3の光学部113を備える。また、第3の位置123に集光したテラヘルツ波を検出するための検出部102を備える。そして、物体107からのテラヘルツ波のうち、物体107における第1の位置121からのテラヘルツ波を選択的に検出可能に構成される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
テラヘルツ波を用いて物体を分析するための分析装置であって、
テラヘルツ波を発生させる発生部と、
前記発生部から発生したテラヘルツ波を前記物体における第1の位置に集光させる第1の光学部と、
前記物体からのテラヘルツ波を第2の位置に集光させる第2の光学部と、
前記第2の位置に集光したテラヘルツ波を第3の位置に集光させる第3の光学部と、
前記第3の位置に集光したテラヘルツ波を検出するための検出部と、を備え、
前記物体からのテラヘルツ波のうち、前記物体における前記第1の位置からのテラヘルツ波を選択的に検出可能に構成されることを特徴とする分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (18件)：
2G059AA05
, 2G059BB16
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE12
, 2G059EE17
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059JJ01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ14
, 2G059JJ18
, 2G059JJ19
, 2G059KK01
, 2G059LL01
