特許
J-GLOBAL ID：201003097984784651
固体撮像素子の白キズ補正装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松本 隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-120643
公開番号（公開出願番号）：特開2010-272916
出願日： 2009年05月19日
公開日（公表日）： 2010年12月02日
要約：
【課題】撮像画像における被写体の再現性を大きく損なうことなく、固体撮像素子の欠陥画素に起因して生じる白キズを補正する技術を提供する。【解決手段】固体撮像素子を遮光しかつ一定の露光時間で撮像を行った場合において、固体撮像素子の複数の画素の各々を注目画素とし、当該注目画素の周辺画素の画素値の平均値と当該注目画素の画素値との差分から当該注目画素が撮像画像にて白キズとなって現れる欠陥画素であるか否かを判定する。そして、欠陥画像である場合には、固体撮像素子の撮像面における当該注目画素の位置を示す位置情報を記憶する。一方、利用者により指定された露光時間での撮像を行う際には、当該位置情報の示す欠陥画素については、当該欠陥画素の原画素値と周辺画素の画素値の平均値とを露光時間に応じた比率(露光時間が短いほど前者の比率が高い)で重み付け平均した値に置き換えて画素値を補正する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
複数の画素をマトリクス状に配列した撮像面を有する固体撮像素子に、遮光した状態で予め定められた露光時間の撮像を行わせた場合において、前記複数の画素の各々を注目画素とし、当該注目画素の周辺画素の画素値の平均値と当該注目画素の画素値との差分から当該注目画素が欠陥画素であるか否かを判定し、欠陥画素と判定される場合には、前記撮像面における当該注目画素の位置を示す位置情報を欠陥画素管理テーブルに書き込む欠陥画素検出手段と、
利用者により指示された露光時間の撮像を前記固体撮像素子に行わせ、前記複数の画素の各々の画素値が得られた場合において、前記欠陥画素管理テーブルに記憶されている位置情報の示す画素については、当該画素の原画素値を、当該画素の周辺画素の画素値の平均値と当該原画素値との重み付け平均に置き換えて補正する画素値補正手段と、
前記利用者により指示された露光時間が長いほど、前記重み付け平均における前記周辺画素の画素値の平均値の重みを大きくする重み調整手段と、
を有することを特徴とする固体撮像素子の白キズ補正装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H04N5/232 Z
, H04N5/335 P
, H04N5/335 E
5C024AX01
, 5C024CX22
, 5C024CX23
, 5C024GX02
, 5C024GY31
, 5C122DA03
, 5C122DA04
, 5C122EA14
, 5C122FC01
, 5C122FC02
, 5C122FG02
, 5C122HA47
, 5C122HA88
, 5C122HB01
, 5C122HB10
