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J-GLOBAL ID：201006020125810568

FIB-SIMS【分析】

分析化学
同義語 (1件)：

収束イオンビーム-二次イオン質量分析 (focused ion beam-secondary ion mass spectrometry)
収束イオンビーム-二次イオン質量分析について
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関連語 (1件)：

イオンビーム (ion beam)
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上位語 (1件)：

二次イオン質量分析 (secondary ion mass spectrometry)
二次イオン質量分析について
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