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J-GLOBAL ID：201102188503086149   整理番号：11A0450138

照射の間、Niで伝染電顕と障害進化論の観察と連結される二重イオン・ビーム照射システム

DUAL-ION BEAM IRRADIATION SYSTEM INTERFACED WITH A TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE AND THE OBSERVATION OF DEFECT EVOLUTION IN NI DURING IRRADIATION

著者 (2件)： ISHIKAWA N ,  FURUYA K
資料名： ULTRAMICROSCOPY
巻： 56  号： 1-3  ページ： 211-215  発行年： 1994年 
JST資料番号： O6516A  ISSN： 0304-3991  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： Ni ,  伝染 ,  電顕 ,  障害 ,  進化 ,  観察 ,  重イオン ,  ビーム