文献

J-GLOBAL ID：201102200822423581   整理番号：11A0094548

実速度スキャンテスティングにおけるIRドロップ低減のための低キャプチャスイッチング動作テスト生成

Low capture switching activity test generation for reducing IR-drop in at-speed scan testing

著者 (7件)： WEN X ,  MIYASE K ,  SUZUKI T ,  KAJIHARA S ,  WANG Lt ,  SALUJA Kk ,  KINOSHITA K
資料名： JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
巻： 24  号： 4  ページ： 379-391  発行年： 2008年 
JST資料番号： O3604A  ISSN： 0923-8174  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： IR ,  ドロップ ,  テスト生成