埋込み原子法によるH<sub>2</sub>-Pt(111)系の解離確率に対する動的効果

TOKUMASU Takashi; ITO Daigo

文献

J-GLOBAL ID：201102201438793491 整理番号：11A0791317

埋込み原子法によるH₂-Pt(111)系の解離確率に対する動的効果

The dynamic effects on dissociation probability of H²-Pt(111) system by embedded atom method

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資料名：
巻： 109 号： 6 ページ： 063509 発行年： 2011年03月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

H₂-Pt(111)系の解離確率に原子あるいは分子の運動が及ぼす効果を分子動力学により分析した。埋込み原子法(EAM)を使って,Pt(111)表面とH₂分子との相互作用をモデル化して,電子密度への依存性を考察した。最初,EAMポテンシャルは,密度汎関数理論(DFT)により得られた電子密度や特定のサイトと方位での解離障壁ようなこの系の特性を表すよう構築した。このポテンシャルを使って,Pt(111)表面へ入射するH₂分子のシミュレーションを行って,衝突の特性を観測した。これらシミュレーションは多数回,H₂分子の方位を変えて行い,各サイトでの入射エネルギーに対する動的解離確率を求めた。一方,静的解離確率をEAMポテンシャルによって得た水素分子の解離障壁から定義した。これら結果は互いに比較し,解離確率に対する詳細効果と呼ぶ原子あるいは分子の運動の効果を分析した。解離現象に対する動的効果はトップサイトでは非常に大きいが,ブリッジあるいはfccサイトでは小さい。(翻訳著者抄録)

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吸着の電子論

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埋込み原子法によるH2-Pt(111)系の解離確率に対する動的効果

埋込み原子法によるH₂-Pt(111)系の解離確率に対する動的効果