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J-GLOBAL ID：201102202628254429   整理番号：11A0665500

デジタル X 線非破壊検査技術

The Digital X-Ray Non Destructive Inspection Techniques

著者 (1件)： 松田淳 (ポニー工業株式会社・技術本部)
資料名： Journal of the Vacuum Society of Japan  (Journal of the Vacuum Society of Japan)
巻： 54  号： 1  ページ： 13-20 (J-STAGE)  発行年： 2011年 
JST資料番号： G0194A  ISSN： 1882-2398  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 1895年,レントゲンがX線を発見して以降,X線検査手法は,医療用分野といった多岐に渡る分野において使用されてきたが,各国の非破壊検査規格などは未だに検査媒体としてX 線フィルムでの評価・判定を規定している。しかし,X 線フィルム法では現像処理が必要であり,時間の短縮,簡便化,像質改善等の観点から,近年DR(デジタルラジオグラフィ)の開発・研究が盛んになり,種々のデバイスが開発,製品化されている。そして,これに伴い,デジタル化に関する規格・法規が導入制定されつつある。本稿では,X 線検査手法に関するデジタル化用のデバイスとして,健康診断でのバリウム胃検査の画像化装置として使用されるX 線イメージ・インテンシファイア(X 線I.I.),このデバイスの限界を改善する次世代X 線検出器である相補性金属酸化物半導体(CMOS)フラットパネルディテクタ,空港の手荷物検査装置や食品の異物検査機で使用されるラインセンサなどを紹介し,更に,画像化手法として,コンピュータ断層撮影(Computed Tomography)法,コンプトン散乱を用いた後方散乱線検査装置,放射線の物理特性によるイメージングについて述べた。

シソーラス用語： *非破壊検査 ,  X線検査 ,  *ディジタル画像 ,  ラジオグラフィー ,  *イメージインテンシファイア ,  *X線画像 ,  光センサ ,  *放射線検出器 ,  イメージセンサ ,  計算機トモグラフィー ,  後方散乱 ,  Compton散乱
準シソーラス用語： CMOSイメージセンサ ,  ディジタルイメージ ,  フラットパネルディテクタ ,  ラインセンサ

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (8件)：

• 1) 松田 淳:製剤に対する X 線検査装置の開発,製剤機械技術研究会誌 Vol. 18 No. 4 (2009) p. 51.
• 2) 松田 淳:リアルタイムラジオグラフィ用高感度,高分解能 I.I. の開発,放射線による非破壊評価シンポジウム,(社)日本非破壊検査協会 (1995) .
• 3) 高田圭弘,中井啓介,釜田敏光:第 3 世代 X 線検出器「SID-A50」,第 7 回放射線による非破壊評価シンポジウム講演論文集 (2010) p. 65.
• 4) ポニー工業株式会社ホームページ http://www.ponyindustry.co.jp/
• 5) 國友博史:ディジタル画像データと物理測定の基礎,日本放射線技術学会雑誌 Vol. 65 No. 8 (2009) p. 1085.

タイトルに関連する用語 (2件)： デジタル ,  非破壊検査