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J-GLOBAL ID：201102203339322846   整理番号：11A1538971

EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定

著者 (4件)： 清水裕史 (京大 工) ,  筒井弘 (京大 大学院情報学研究科) ,  越智裕之 (京大 大学院情報学研究科) ,  佐藤高史 (京大 大学院情報学研究科)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2011  号： エレクトロニクスソサイエティ2  ページ： 93  発行年： 2011年08月30日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では,EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定手法を提案した。今後はこの結果得られる状態数分布を通じて,より詳細なRTNのモデル化ならびにその妥当性検討を行う。(著者抄録)

シソーラス用語： *MOS集積回路 ,  雑音 ,  *表面準位 ,  モデリング ,  *推定 ,  ヒストグラム ,  アルゴリズム ,  Γ分布 ,  電子トラップ
準シソーラス用語： RTN ,  *界面状態 ,  トラップ【固体】 ,  *EM法

分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  表面の電子構造  (BM02080J) ,  システム・制御理論一般  (IA02010H)

タイトルに関連する用語 (4件)： EM ,  MOSデバイス ,  界面状態 ,  推定