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J-GLOBAL ID：201102203916272144   整理番号：11A1265973

反射型半導体光増幅器を用いたキャビティーリングダウン分光分析

Cavity Ring-Down Spectroscopy Using Reflective Semiconductor Optical Amplifier

著者 (3件)： 谷本浩一 (近畿大学理工学部電気電子工学科) ,  松尾達弥 (近畿大学理工学部電気電子工学科) ,  前田佳伸 (近畿大学理工学部電気電子工学科)
資料名： 電気学会論文誌 E  (IEEJ Transactions on Sensors and Micromachines)
巻： 131  号： 8  ページ： 292-295 (J-STAGE)  発行年： 2011年 
JST資料番号： L3098A  ISSN： 1341-8939  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： エルビウム添加光ファイバ増幅器(EDFA)の代わりに半導体光増幅器(SOA)を使用して作成したキャビティーリングダウン分光法(CDRS)装置に0.5%から2倍単位で16%までのショ糖水溶液を使い3回測定を行い検量線を作成したところ,検量線に対する決定係数R²は0.999となり,得られた検量線は十分妥当なものであった。減衰率を求めた結果などから,濃度0.5%から8%までがショ糖溶液に対しては,本CRDS装置は有効に機能したことが確認できた。

シソーラス用語： *EDFA ,  *空洞内レーザ分光法 ,  減衰定数 ,  *半導体光増幅器 ,  負帰還 ,  光変調 ,  相互変調 ,  利得
準シソーラス用語： キャビティリングダウン分光法 ,  相互利得変調

分類 (1件)： その他の光伝送素子  (BD06040S)

引用文献 (9件)：

• (1) M. Kawasaki and S. Enami: “Detection of Trace Species with Cavity Ring-Down Spectroscopy”, J. Laser Eng., Vol.34, No.4, pp.289-294 (2006) (in Japanese)
• 川崎昌博· 江波進一: 「キャビティーリングダウン分光法による微量物質検出」, レーザー研究, Vol.34, No.4, pp.289-294 (2006)
• (2) 安達雅浩· 高木正和· 黒川 悟· 川崎昌博: 「光を用いた液相中の微量成分モニタリング」, 京都府中小企業技術センター技報, Vol.33, pp.1-7 (2005)
• (3) B. Glance, J. M. Wiesenfield, U. Koren, A. H. Gnauck, H. M. Presby, and A. Jourdan: “High performance optical wavelength shifter”, Electron. Lett., Vol.28, No.18, pp.1714-1715 (1992)
• (4) Y. Maeda: “Negative feedback optical amplification effect based on cross-gain modulation in semiconductor optical amplifiers”, Appl. Phys. Lett. Vol.88, No.10, pp.101108-1-101108-3 (2006)

タイトルに関連する用語 (2件)： 反射型半導体光増幅器 ,  分光分析