文献

J-GLOBAL ID：201102204188623888   整理番号：11A1703310

超伝導ナノワイヤ単一光子検出器の固有暗計数の起源

Origin of intrinsic dark count in superconducting nanowire single-photon detectors

著者 (8件)： YAMASHITA T. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...) ,  MIKI S. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...) ,  MAKISE K. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...) ,  QIU W. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...) ,  TERAI H. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...) ,  FUJIWARA M. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...) ,  SASAKI M. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...) ,  WANG Z. (Advanced ICT Res. Inst., National Inst. of Information and Communications Technol. (NICT), 588-2 Iwaoka, Kobe ...)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 99  号： 16  ページ： 161105  発行年： 2011年10月17日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超伝導ナノワイヤ単一光子検出器のデコヒーレンス(いわゆる暗計数)の起源を調べた。暗計数率の直流特性とバイアス電流依存性を0.5~4.0Kの広い温度範囲で測定し,結果を渦の熱的揺らぎの理論モデルにより解析した。結果は渦-反渦対の電流支援脱結合が暗計数の主な起源であることを示唆した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： ナノワイヤ ,  *光検出器 ,  *計数率 ,  電流 ,  依存性 ,  *渦 ,  ゆらぎ ,  *超伝導単一光子検出器
準シソーラス用語： バイアス電流 ,  *暗計数率 ,  電流依存性

分類 (1件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 伝導 ,  ナノワイヤ ,  単一光子検出器 ,  固有 ,  計数 ,  起源